| 规范编号: DIN EN 60749-11-2003
中文规范称号: 半导体器件.机器以及气象实验办法.第11局部: 温度骤变.双液电镀槽法 替代规范号: DIN EN 60749-2002, 中国规范分类号: L40 规范存眷次数: 37次 规范上传日期: 2010-9-18 公布日期: 2003-04 施行日期: 2003-04-01 英文规范称号: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002 采纳国内规范号: EN 60749-11-2002,IEC 60749-11-2002 半导体器件.机器以及气象实验办法.第11局部: 温度的急速变动.双液电镀槽法,IDT, 规范种别: 德国规范 规范页数: 10P.;A4 页 |
DIN EN 60749-11-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法
2021-10-15 10:42 浏览:220